مطالعه نانو ساختار و خواص مکانیکی لایه های نازک نتیرید کروم بصورت تابعی از شرایط کندو پاش
پایان نامه
- دانشگاه آزاد اسلامی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکزی - دانشکده علوم پایه
- نویسنده مرتضی جعفرزاده کنارسری
- استاد راهنما کیخسرو خجیر ناصر زارع دهنوی
- تعداد صفحات: ۱۵ صفحه ی اول
- سال انتشار 1392
چکیده
نیترید براساس پوششهای سخت به طورگسترده ای برای کاربردهای مکانیکی استفاده میشود .درمیان این پوششها نیتریدکروم ها به طور ویژه قابل توجه هستند زیرا از خواص مکانیکی واصطکاکی خوبی برخوردارهستند.دراین کار تاثیر جریان گاز نیتروژن بر خواص مکانیکی و اصطکاکی لایه های نازک نیترید کروم مورد مطالعه قرار گرفت. لایه های نازک نیترید کروم روی آلومینیم 5083 بوسیله تکنیک کندوپاش مغناطیسی جریان dc درجریانهای مختلف گاز نیتروژن در رنجsccm 20-5 قرارگرفتند.شکل سطح وترکیبات شیمیایی لایه ها با استفاده از میدان گسیلی میکروسکوپ الکترونی روبشی (fesem) مورد مطالعه قرارگرفت. ضخامت لایه به وسیله دستگاه کنترل وتنظیم کریستال کوآرتز و بررسی تصاویر سطح مقطع میکروسکوپ الکترونی (fesem) تعیین شد. خواص مکانیکی و اصطکاکی نمونه ها به وسیله آزمون نانو دندانه کردن وتست خراش بررسی شد. نتایج نشان داد که سختی لایه ها با جریان گاز نیتروژن افزایش پیدا کرد درحالی که ضریب حجمی مالش و خراش کاهش پیدا کرد. بررسی ساختاری نشان داد که این رفتارها به علت کاهش چگالی جابجا شدگی و بهبود کیفیت کریستال بود.
منابع مشابه
لایه نشانی و مطالعه خواص لایه نازک نانو ساختار آلومینیوم اکسی نیترید(alon) تهیه شده به روش کندو پاش مغناطیسی
در این تحقیق ،لایه های نازک آلومینیوم اکسی نیترید بر روی زیر لایه هایی از جنس bk7 به روش کندوپاش مغناطیسی جریان متناوب انباشته شده اند. هدف از این مطالعات بررسی اثر نسبت گاز نیتروژن ، به عنوان گاز واکنشی و تاثیر دمای زیرآیند بر خواص اپتیکی، سختی، مرفولوژی سطح, آستانه تخریب لایه و پوشش های سطحی alon می باشد. نمونه های مهیا شده، بوسیله سیستم های میکروسکوپ الکترونی روبشی، edx، طیف سنج اپتیکی، سختی...
15 صفحه اولتهیه و ارزیابی لایه های نازک نیترید کروم در سیستم کند و پاش مغناطیسی با هدف جایگزینی کروم سخت
به منظور بررسی امکانپذیری جایگزینی پوششهای جدید با کروم سخت، لایه های نازک نیترید کروم در سیستم کند و پاش تهیه شدند. نتایج بدست آمده نشان داد که ریز ساختار پوششها به شدت به فشار نسبی گاز واکنشی وابسته است. با افزایش فشار نسبی گاز واکنشی ( N2)P در سیستم، در ابتدا فاز نیترید شکل می گیرد ولی با افزایش بیشتر گازهای واکنشی، پوششها نظم کریستالی خود را از دست داده و حالت آمورف پیدا می کنند. تغییر نسب...
متن کاملبررسی نانو ساختار لایه های نازک اکسید مس بصورت تابعی از دمای بازپخت
این پایان نامه به بررسی تاثیر دما و محیط بازپخت در نانو ساختار لایه های نازک اکسید مس می پردازد. لایه های نازک مس به روش تبخیر حرارتی در خلاء( pvd ) برروی زیر لایه های شیشه تهیه شده و سپس در محیط های مختلف در اتمسفر(هوا) و در حضور شار ثابت اکسیژن (cc/min 200) در دماهای c?400-200 باز پخت شدند. در مرحله بعد نیز به وسیه آنالیزی های پراش پرتو – (xrd)x و میکروسکوپ نیروی اتمی (afm) ساختار کریستالو ...
15 صفحه اولمطالعه نانو ساختار، خواص مکانیکی و اصطکاکی لایه های نازک کندوپاش شده crn/cr/al5083 بصورت تابعی از دما و ولتاژ زیرلایه
تهیه و مطالعه بر روی لایه های نازک برای سال های طولانی است که توسط محققین انجام می شود. ولی در طی60 سال گذشته، لایه های نازک اهمیت روزافزونی را بدست آورده و کاربردهای صنعتی متعددی پیدا کرده اند. این کاربردها بیشتر در زمینه های اپتیکی، مغناطیسی و الکترونیکی بوده است. اما استفاده عملی از لایه های نازک فقط در طی40 سال اخیر انجام گرفته است که دلایل متعددی برای این موضوع وجود دارد
ریزساختار و خواص لایه های نازک اکسید وانادیم(VOx) تهیه شده در دستگاه کند و پاش مغناطیسی واکنشی
لایه های نازک اکسید وانادیم(VOx) در سیستم کند و پاش مغناطیسی جریان مستقیم تهیه شدند. به منظور دستیابی به فازهایمختلف از اکسید وانادیم، نمونه ها تحت دماها و اتمسفرهای مختلف آنیل شدند. در ابتدالایه های نازک اکسید وانادیم(VOx)بدست آمده در دو دمای مختلف 450 و 500oC آنیل شدند. هر دو لایه شامل ترکیبی از فازهای VO2(M) و V2O5 بودند. فاز غالب در دمای 450oC فاز VO2(M) بود که در دمای 500oC به فاز V2O5 ...
متن کاملتأثیر اتمسفر فرآیند پخت روی خواص الکتریکی و نوری لایه نازک نانو ساختار اکسید روی دارای آلایش آلومینیوم و تیتانیم
در این تحقیق لایه نازک نانو ساختار اکسید روی دارای آلایش آلومینیوم و تیتانیم (ATZO) به روش سل ژل تهیه گردید. آنالیز فازی توسط تکنیک پراش پرتو ایکس (XRD)، مشاهدات ریز ساختاری و آنالیز عنصری توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (FE-SEM) و ابزار طیف سنج تفکیک انرژی (EDX) انجام شده و زبری سطح با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) مورد بررسی قرار گرفت. نتایج XRD نشان داد که حضور اتمسفر احیا...
متن کاملمنابع من
با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید
ذخیره در منابع من قبلا به منابع من ذحیره شده{@ msg_add @}
نوع سند: پایان نامه
دانشگاه آزاد اسلامی - دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکزی - دانشکده علوم پایه
کلمات کلیدی
میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com
copyright © 2015-2023